IGBT即絕緣柵雙極晶體管,是一種復(fù)合了功率場(chǎng)效應(yīng)管和電力晶體管的優(yōu)點(diǎn)而產(chǎn)生的一種新型復(fù)合器件,它同時(shí)具有MOSFET的高速開(kāi)關(guān)及電壓驅(qū)動(dòng)特性和雙極晶體管的低飽和電壓特性,易實(shí)現(xiàn)較大電流的能力,既具有輸入阻抗高、工作速度快、熱穩(wěn)定性好和驅(qū)動(dòng)電路簡(jiǎn)單的優(yōu)點(diǎn),又具有通態(tài)電壓低、耐壓高和承受電流大的優(yōu)點(diǎn)。
近年來(lái)IGBT成為電力電子領(lǐng)域中尤為矚目的電力電子器件,并得到越來(lái)越廣泛的應(yīng)用。因此IGBT的測(cè)試就變的尤為重要。
IGBT的測(cè)試包括靜態(tài)參數(shù)測(cè)試、動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試、短路測(cè)試、熱阻測(cè)試等,這些測(cè)試中最基本的測(cè)試就數(shù)靜態(tài)參數(shù)測(cè)試,只有保證IGBT的靜態(tài)參數(shù)沒(méi)有問(wèn)題的情況下,才進(jìn)行像動(dòng)態(tài)參數(shù)(開(kāi)關(guān)時(shí)間、開(kāi)關(guān)損耗、續(xù)流二極管的反向恢復(fù))、短路、熱阻方面進(jìn)行測(cè)試,要進(jìn)行IGBT靜態(tài)參數(shù)測(cè)試,首先就需要了解IGBT都有哪些靜態(tài)參數(shù),具體如下。
IGBT靜態(tài)參數(shù)有BVCES,ICES,IGES,VGE(TH),VCE(SAT),VF等。
1、BVCES
在柵極 G 和發(fā)射極 E 短路時(shí),在加一定的 IC 下,IGBT 的集電極 C 和發(fā)射極 E 之間的擊穿電壓。
2、ICES
在柵極 G 和發(fā)射極 E 短路時(shí),在加一定的 VCE 下,IGBT 的集電極 C 和發(fā)射極 E 之間的漏電流。
3、IGES
在集電極 C 和發(fā)射極 E 短路時(shí),在加一定的 VGE 下,IGBT 的柵極 G 和發(fā)射極 E 之間的漏電流。
4、VGE(TH)
在一定的 IC 下,IGBT 的開(kāi)啟電壓。
5、VCE(SAT)
在柵極 G 和發(fā)射極之間加一定的 VGE(大于 VGE(TH)),一定的 IC 下,IGBT 的集電極 C 和發(fā)射極 E 之間的飽和壓降。
6、VF
在一定的 IE 下,續(xù)流二極管的電壓降。
要判斷一個(gè)IGBT器件的好壞,就需要對(duì)以上這些參數(shù)進(jìn)行測(cè)試,測(cè)試結(jié)果就要和IGBT生產(chǎn)廠家出的IGBT的規(guī)格書(shū)中的電氣特性這一欄里邊的范圍進(jìn)行比較,在范圍之內(nèi)就合格,否則不合格。
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